Resistência & Medição de resistividade

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  • Matmeas RMS-1000s Sistema de medição de resistividade de resistividade de material semicondutor de alta temperatura

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    Resistência & Medição de resistividade

    O sistema de medição de resistividade de semicondutores da série RMS-1000S é usado principalmente para avaliação e teste de condutividade elétrica de materiais semicondutores, o sistema adota o princípio de medição de resistência de quatro fios para design e desenvolvimento, e pode medir a resistência e resistividade de materiais semicondutores sob condições de alta temperatura e atmosfera de vácuo, e pode analisar a curva de resistência e resistividade da amostra em teste com temperatura e tempo. Pode ser amplamente utilizado para a medição de resistividade do silício (e), germânio (ge), arseneto de gálio (Gaas), antimoneto de índio (Especialmente), Doente, Gaasp, semicondutores de solução sólida, como GE-Si, Giaas-gap, e outros materiais a granel. Medição de resistividade de materiais como gesi, Giaas-gap, etc..

    Faixa de temperatura: RT-600℃/1000℃
    Canal de teste: canal único
    Fonte de energia: 220V±10%, 50Hz
    Inclinação de aumento de temperatura: 0-10℃/min (valor típico: 3℃/min)
    Tamanho da amostra: < < 20mm, D < 5mm
    temperatura operacional: 5 ℃ para + 40 ℃;
    Precisão do controle de temperatura: ± 0.5 ℃
    Material do eletrodo: eletrodos de platina superior e inferior
    Temperatura de armazenamento: -40 ℃ para +65 ℃
    Faixa de medição de resistência: 0.1mΩ~100MΩ
    Modo de controle de temperatura: Controle preciso de temperatura preciso
    Umidade operacional: +40 ℃, umidade relativa até 95% (sem condensação)
    Faixa de medição de resistividade: 1mω.cm ~ 10mΩ.cm
    Formato de armazenamento de dados: Formato de texto TXT
    Tamanho do equipamento: 630x640x450mm (C×A×L)
    Ambiente de medição: ar, atmosfera fluida, atmosfera de vácuo
    Transmissão de dados: USB
    Peso: 38kg
    Método de medição: método de 2 fios de material semicondutor
    Conformidade com padrões: ASTM
    Garantia: 1 ano

    investigação
    • Especificações

    Matmeas RMS-1000S Série semicondutores Sistema de medição de resistividade de material é usado principalmente para a avaliação e teste da condutividade do material semicondutor, O sistema adota o princípio de medição do método de resistência de quatro fios para design e desenvolvimento, pode medir a resistência e resistência ao material semicondutor em condições de alta temperatura e atmosfera a vácuo, pode analisar a curva de resistência e resistividade da amostra medida com mudança de temperatura e tempo. Pode ser amplamente utilizado para a medição de resistividade do silício (e), germânio (ge), Arsenide (Gaas), antimonídeo (Especialmente), Doente, Gaasp, semicondutores de solução sólida, como GE-Si, Gap-gap e outros materiais a granel. Medição de resistividade de materiais como gesi, Giaas-gap, etc..

    Faixa de temperatura: TA-600°C/1000°C
    Rampa de temperatura: 0-10°C/min (típico: 3°C/min)
    Precisão do controle de temperatura: ±0,5°C
    Faixa de medição de resistência: 0.1mΩ~100MΩ
    Faixa de medição de resistividade: 1mω.cm ~ 10mΩ.cm
    Ambiente de medição: ar, atmosfera fluida, atmosfera de vácuo
    Método de medição: 2-Método de fio para materiais semicondutores
    Canal de teste: canal único
    Tamanho da amostra: φ<20mm,d<5mm
    Material do eletrodo: eletrodo de platina superior e inferior
    Modo de controle de temperatura: Controle preciso de temperatura preciso
    Formato de armazenamento de dados: Formato de texto TXT
    Transmissão de dados: USB
    Padrão: ASTM
    Fonte de energia: 220V±10%, 50Hz
    Temperatura operacional: 5° C a +40c.
    Temperatura de armazenamento: -40° C a +659c
    Umidade operacional: até 95% umidade relativa em +40c (Sem resfriamento) Tamanho do dispositivo: 630x640x450mm (CxAxL)
    Peso: 38kg
    Garantia: 1 ano

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