Resistencia & Medición de resistividad

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  • Matmeas RMS-1000S Serie ALTA TEMPERATURA SISTEMA DE MEDIACIÓN DE MATERIO DE MATERIAL

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    Resistencia & Medición de resistividad

    El sistema de medición de resistividad de semiconductores de la serie RMS-1000S se utiliza principalmente para la evaluación y prueba de la conductividad eléctrica de materiales semiconductores., El sistema adopta el principio de medición de resistencia de cuatro cables para diseño y desarrollo., y puede medir la resistencia y resistividad de materiales semiconductores en condiciones de alta temperatura y atmósfera de vacío., y puede analizar la curva de resistencia y resistividad de la muestra bajo prueba con temperatura y tiempo.. Se puede utilizar ampliamente para la medición de resistividad del silicio (y), germanio (ge), arseniuro de galio (Gaas), antimonuro de indio (Especialmente), Enfermo, Gaasp, semiconductores de solución sólida como GE-Si, La brecha de gaas, y otros materiales a granel. Medición de resistividad de materiales como Gesi, La brecha de gaas, etc..

    Rango de temperatura: RT-600℃/1000℃
    Canal de prueba: un canal solo
    Fuente de alimentación: 220V±10%, 50Hz
    Pendiente de aumento de temperatura: 0-10°C/min (valor típico: 3°C/min)
    Tamaño de la muestra: φ<20 mm, d<5mm
    temperatura de funcionamiento: 5 ℃ a + 40 ℃;
    Precisión del control de temperatura: ± 0.5 ℃
    Material del electrodo: electrodos de platino superior e inferior
    Temperatura de almacenamiento: -40 ℃ a +65 ℃
    Rango de medición de resistencia: 0.1~ 100m
    Modo de control de temperatura: Control de temperatura preciso PID
    Humedad de funcionamiento: +40 ℃, humedad relativa hasta 95% (sin condensación)
    Rango de medición de resistividad: 1mΩ.cm ~ 10mΩ.cm
    formato de almacenamiento de datos: formato de texto txt
    Tamaño del equipo: 630x640x450mm (Largo×Alto×Ancho)
    Entorno de medición: aire, atmósfera que fluye, atmósfera de vacío
    Transmisión de datos: USB
    Peso: 38kg
    Método de medida: material semiconductor método de 2 hilos
    Conformidad con las normas: Astm
    Garantía: 1 año

    consulta
    • Presupuesto

    El sistema de medición de resistividad de material semiconductor de la serie MATMeas RMS-1000S se usa principalmente para la evaluación y prueba de conductividad del material semiconductor, El sistema adopta el principio de medición del método de resistencia de cuatro hilos para el diseño y el desarrollo, puede medir la resistencia y resistividad del material semiconductor en condiciones de altura de altas temperaturas y aspiradoras, puede analizar la curva de resistencia y resistividad de la muestra medida con la temperatura y el cambio de tiempo. Se puede utilizar ampliamente para la medición de resistividad del silicio (y), germanio (ge), arsenuro (Gaas), antimonuro (Especialmente), Enfermo, Gaasp, semiconductores de solución sólida como GE-Si, Gaas-gap y otros materiales a granel. Medición de resistividad de materiales como Gesi, La brecha de gaas, etc..

    Rango de temperatura: RT-600°C/1000°C
    rampa de temperatura: 0-10°C/min (típico: 3°C/min)
    Precisión del control de temperatura: ±0,5 °C
    Rango de medición de resistencia: 0.1~ 100m
    Rango de medición de resistividad: 1mΩ.cm ~ 10mΩ.cm
    Entorno de medición: aire, atmósfera que fluye, atmósfera de vacío
    Método de medida: 2-Método de alambre para materiales semiconductores
    Canal de prueba: un canal solo
    Tamaño de la muestra: Fi<20milímetro,d<5milímetro
    Material del electrodo: electrodo de platino superior e inferior
    Modo de control de temperatura: Control de temperatura preciso PID
    formato de almacenamiento de datos: formato de texto txt
    Transmisión de datos: USB
    Estándar: Astm
    Fuente de alimentación: 220V±10%, 50Hz
    Temperatura de funcionamiento: 5°C a +40C.
    Temperatura de almacenamiento: -40° C a +659C
    Humedad de funcionamiento: hasta 95% humedad relativa a +40c (Sin enfriamiento) Tamaño del dispositivo: 630x640x450mm (LxHxW)
    Peso: 38kg
    Garantía: 1 año

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